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磁导率仪,磁导率测定仪,金属电导率仪,激光涂层测厚仪,超声波C扫描系统,钝化膜测试仪,电导率测量仪,涡流探伤仪

产品资料

美国泛美(奥林巴斯)延迟探头

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 美国泛美(奥林巴斯)延迟探头
产品型号: C542-SM
产品展商: 美国泛美
产品文档: 无相关文档
简单介绍

美国泛美(奥林巴斯)延迟探头• 旋入式设计,303不锈钢外壳。• 不同频率的探头颜色不同。美国泛美(奥林巴斯)延迟探头• 兼容于短接近、Accupath、高温和表面波楔块。

详细介绍
美国泛美(奥林巴斯)延迟探头C542-SM介绍
优势
• 三种材料制成的Accupath楔块在提高了信噪比性能的同时,还表现出极好的防磨特性。
• 高温楔块可对热材料进行在役检测。
• 用户可根据需要定制楔块,以得到非标准的折射角度。
• 具有可更换型和整合型两种结构设计。
• 具有外形吻合性能。
• 可提供在铝制材料中获得标准折射角度的楔块及整合组件设计。


美国泛美(奥林巴斯)延迟探头C542-SM介绍

应用
缺陷探测与定量。
• 要了解衍射时差探头,请参阅第35页。
• 检测管道、管件、锻件、铸件,机加工部件和结构部件上的焊缝缺陷或裂缝。


美国泛美(奥林巴斯)延迟探头C542-SM

袖珍旋入式toFd探头具体型号有:

频率

标称晶片尺寸

探头工件编号

外壳

类型

外壳螺距

MHz

英寸

毫米

2.25

0.25

6

C542-SM

ST1

3/8 - 32

0.375

9.5

C566-SM

ST2

11/16 - 24

0.5

12

C540-SM

ST2

11/16 - 24

5

0.125

3

C567-SM

ST1

3/8 - 32

0.25

6

C543-SM

ST1

3/8 - 32

0.375

9.5

C568-SM

ST2

11/16 - 24

0.5

12

C541-SM

ST2

11/16 - 24

10

0.125

3

C563-SM

ST1

3/8 - 32

0.25

6

C544-SM

ST1

3/8 - 32

15

0.125

3

V564-SM*

ST1

3/8 - 32

*活动晶片为标准压电陶瓷(没有复合材料的活动晶片)。


袖珍旋入式toFd楔块

ST1型楔块

ST2型楔块

折射纵波角度

楔块选项

ST1-45L

ST2-45L

45°

标准

ST1-45L-IHC

ST2-45L-IHC

45°

灌溉*

ST1-60L

ST2-60L

60°

标准

ST1-60L-IHC

ST2-60L-IHC

60°

灌溉*

ST1-70L

ST2-70L

70°

标准

ST1-70L-IHC

ST2-70L-IHC

70°

灌溉*

*还包含碳化物防磨销钉。


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