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磁导率仪,磁导率测定仪,金属电导率仪,激光涂层测厚仪,超声波C扫描系统,钝化膜测试仪,电导率测量仪,涡流探伤仪

产品资料

美国GE垂直探头

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 美国GE垂直探头
产品型号: SEB4
产品展商: 美国GE
产品文档: 无相关文档
简单介绍

美国GE垂直探头通常:近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量(即使在高温情况下)。美国GE垂直探头

详细介绍
美国GE垂直探头
通常:近表面的小缺陷探测和评估。焦点内大缺陷以及平行
于表面分布的缺陷检测。剩余壁厚的测量(即使在高温情况下)。


美国GE垂直探头

类型

[订购号码]

a×b [mm]

f [MHz]

AB* [mm]

N [mm]

EB [mm]

声束形状

编号

备注

DA0.8G

20Ø

0.8

3-400

35

8

0.8-20/2

用于高衰减材料

SEB1

SEB2

SEB2-0°

SEB4

SEB4-0°

21Ø

7×18

7×18

6×20

6×20

1

2

2

4

4

3-400

2-1000

4.5-2000

1.5-2000

4-4000

20

15

30

12

25

10

5

5

2.5

2.5

1-21/2

2-7×18

2-7×18-0

4-6×20

4-6×20-0

0°意味着

两个单元的

公共角度是

0°

带宽100%

MSEB2

MSEB4

MSEB4-0°

MSEB5

11Ø

3.5×10

3.5×10

2

4

4

5

2-400

1-1500

1.5-2000

0.5-200

8

10

18

10

5

2.5

2.5

1

2-11/2

4-3.5×10

4-3.5×10-0

5-9/2

SEB2KF5

SEB4KF8

SEB5KF3

8 Ø

8 Ø

8 Ø

2

4

5

1.5-350

0.8-400

0.5-80

6

6

3

4

2

1

2-8/2

4-8/2

5-8/2

SEB10KF3

5 Ø

10

0.3-140

3

0.5

10-5/2

 

SEZ5M5

3 Ø

5

0.6-50

3

1

5-3/2

固定电缆(2m)

SEK2C

7×18

2

1.5-1500

15

4

2-7×18

 

MSEK2

MSEK4

11 Ø

3.5×10

2

4

1.5-450

1-2000

8

10

4

2

2-11/2

4-3.5×10

 


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