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磁导率仪,磁导率测定仪,金属电导率仪,激光涂层测厚仪,超声波C扫描系统,钝化膜测试仪,电导率测量仪,涡流探伤仪

产品资料

美国泛美超声波测厚仪探头

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 美国泛美超声波测厚仪探头
产品型号: D791
产品展商: 美国泛美
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简单介绍

美国泛美超声波测厚仪探头 这些探头具有各种频率、尺寸及抗温能力,可为大多数腐蚀应用提供现货供应的解决方案。美国泛美超声波测厚仪探头请注意:可以在用户要求并额外付费的情况下提供TP103 认证。

详细介绍
美国泛美超声波测厚仪探头D791

用于测厚仪的双晶探头

Olympus NDT提供与腐蚀测厚仪一起使用的完整系列的双晶和单晶探头。这类探头大多数都具有自动探头识别功能,可以针对 每种探头*大程度地发挥测厚仪的性能。这些探头具有各种频率、尺寸及抗温能力,可为大多数腐蚀应用提供现货供应的解决方案。请注意:可以在用户要求并额外付费的情况下提供TP103 认证。


美国泛美超声波测厚仪探头D791

具体型号规格:

探头工件编号

频率

**直径

连接器

类型

连接器位置

钢中范围

温度范围

连接杆

MHz

英寸

毫米

英寸

毫米

°F

°C

D790

5

0.434

11

密封

平直

0.040 - 20

1.0 - 508

-5932

-20500

F152

D790-SM

5

0.434

11

Microdot

平直

0.040 - 20

1.0 - 508

-5932

-20500

F152

D790-SL

5

0.434

11

LEMO 00

平直

0.040 - 20

1.0 - 508

-5932

-20500

F152

D790-RL

5

0.434

11

LEMO 00

直角

0.040 - 20

1.0 - 508

-5932

-20500

-

D791

5

0.434

11

密封

直角

0.040 - 20

1.0 - 508

-5932

-20500

F153

D791-RM

5

0.434

11

Microdot

直角

0.040 - 20

1.0 - 508

-5752

-20400

-

D792

10

0.283

7.2

密封

平直

0.020 - 1

0.5 - 25

32122

050

F150

D793

10

0.283

7.2

密封

直角

0.020 - 1

0.5 - 25

32122

050

F151

D794

5

0.283

7.2

密封

平直

0.030 - 2

0.75 - 50

32122

050

F150

D795

5

0.283

7.2

密封

直角

0.030 - 2

0.75 - 50

32122

050

F151

D797

2

0.9

22.9

密封

直角

0.150 - 25

3.8 - 635

-5752

-20400

-

D797-SM

2

0.9

22.9

Microdot

平直

0.150 - 25

3.8 - 635

-5752

-20400

-

D7226

7.5

0.35

8.9

密封

直角

0.028 - 4

0.71 - 100

-5300

-20150

-

D798-LF

7.5

0.35

8.9

密封

直角

0.028 - 4

0.71 - 100

-5300

-20150

-

D798

7.5

0.283

7.2

密封

直角

0.028 - 4

0.71 - 100

-5300

-20150

-

D798-SM

7.5

0.283

7.2

Microdot

平直

0.028 - 4

0.71 - 100

-5300

-20150

-

D799

5

0.434

11

密封

直角

0.040 - 20

1.0 - 508

-5300

-20150

-

MTD705

5

0.2

5.1

Lepra/Con

直角

0.040-0.75

1.0 - 19

32122

050

-

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