主营产品:

磁导率仪,磁导率测定仪,金属电导率仪,激光涂层测厚仪,超声波C扫描系统,钝化膜测试仪,电导率测量仪,涡流探伤仪

产品资料

美国Oakland纸张测厚仪

如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称: 美国Oakland纸张测厚仪
产品型号: MX-1100
产品展商: 美国Oakland
产品文档: 无相关文档
简单介绍

美国Oakland纸张测厚仪MX-1100,既可单独使用,也可以和电脑连接。美国Oakland纸张测厚仪可选配质量控制软件(Quality Control Software),以用于测量结果的分析和统计

详细介绍

美国Oakland纸张测厚仪MX-1100


仪器特性:

■操作简单 三种操作模式:手动,数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机,电脑和专业软件。

 

美国Oakland纸张测厚仪MX-1100

技术参数规格


可测样品 所有的薄膜和薄片材料
测量范围 0 - 50mil,0 - 100mil,0 - 200mil,0 - 300mil 或0 - 1270um,0 - 2540um,0 - 5080um,0 - 7620um 或0 - 1.3mm,0 - 2.5mm,0 - 5.0mm,0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时,请指定um或mm显示
行程(探头缩回高度) 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率:0.01mil或0.1um或0.001mm,量程在0 - 200mil时; 0.1mil或1um或0.001mm,量程在0 - 300mil时。
精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm
平行度 +/-1.0um或更好
测头尺寸 直径4.3mm(薄膜)
直径15.9mm(纸张)
或针对其他材料的其他尺寸
测头压力 4.0 - 8.0psi(0.562kg/cm²),薄膜
7.3psi(0.513kg/cm²),纸张
或针对其他材料的其他设置
循环速率 20/分钟(40/分钟,可选),薄膜
20/分钟(12/分钟,可选),纸张
或针对其他材料的其他设置
下落速率 1mm/sec,纸张
仪器尺寸(宽x长x高) 25 x 25 x 28 cm
标准配置 主机,标准厚度片,脚踏开关
选配件 打印机,质量控制软件(Quality Control Software)
符合标准 ASTM D 374,TAPPI T-411,BS 2782-6,Din 53370




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